（早报讯）南洋理工大学科学团队取得突破性进展，研发出可利用光线精准测量纳米（nanometre）单位的光尺，未来将能应用在提升电子产品的制造与质量控制过程。
南大今天发文告指出，来自南大物理与数学科学学院的研究团队今年五月在《科学》（Science）期刊发表上述研究结果。
一般的显微镜能测量至400纳米以上，这已经小于一条头发约250倍，但科学家常须研究大小介于10至100纳米之间的病毒、纳米颗粒等，因此这样的精准度仍有不足之处。
目前，研究人员只能透过扫描电子显微镜（scanning electron microscope）等仪器测量纳米单位，不仅未必可行，过程也相当耗时，且需要昂贵的仪器才能操作。日后有了新研发的光尺，就能省却这些麻烦。
带领研究团队的尼古拉（Nikolay Zheludev）教授解释说，这项利用光线的测量方法未来将大有用途，例如在制造需要精确测量的电子产品等方面。
接下来，团队计划利用光纤电缆缩小仪器的尺寸，并将这把“光尺”推出市场，有望用以改善先进制造业（advanced manufacturing）的流程，包括制造通讯行业所需零件等。
